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日本山武AZBIL光電開關接線圖
日本山武AZBIL光電開關接線圖采用獨自的光學系實現了穩定檢測、省空間，支持失效保護。晶元匹配時使用的狹光光纖單元、LED等微小部品的落下檢測用光纖單元采用適合用途的光學設計及筐體設計，使高檢測與省空間得到了統，減少了調整工時，也提高了維護性。
日本山武AZBIL光電開關接線圖
實現了作為通用光電開關的標準型的容易使用和高性
簡便的操作性、各種連接方式、長距離檢測、保護構造設計
Mainly used for the detection of semiconductor liquid crystal manufacturing when the exposed light, wash,
heat treatment process used by the liquid, pure water and other liquid,
Using a separate optical system to achieve a stable detection, space-saving, to support failure protection.
多通道控制器可對通道間的數據進行運算。
可減少上位機器程序的編制時間、簡單地實現厚度及寬度的檢測。
K1G系列 平行光激光與CMOS線性圖像傳感器組合、對工件位置進行高精度檢測。
Can reduce the preparation of the upper machine program time, simply to achieve the thickness and width of the detection.
山武光電開關操作簡單,AZBIL光電開關接線圖
HLA系列 長距離激光位移傳感器
HLA系列 通過直接反射實現高精度距離檢測
根據用途的各種應用
檢測方式：透過型、反射型、回歸反射型(偏光反射型)、測距式
各種用途：耐環境用、液體檢測用、基板檢測用、玻璃基板檢測用、位移檢測用
K1G系列備有可*減少到能「檢測」為止的作業時間的功能。
The K1G series is equipped with a function that can be compley reduced to the time required for "detection".
The multi-channel controller can calculate the data between channels.
主要用于半導體及液晶制造工序檢測使用的藥液、
純水等的液面或漏液晶元匹配用光纖單元或LED等微小部品的落下檢測用光纖單元等特定用途的光學式傳感器系列。
主要用于檢測半導體?液晶制造時的露光、洗凈、熱處理工序所使用的藥液、純水等的液面、漏液， HLA系列通過直接反射實現高精度距離檢測
主要用于半導體和液晶制造工藝測試使用的液體，
純水等，或用于液晶單元或LED等液晶單元的發光元件等
日本山武AZBIL光電開關接線圖
銷售部